- 교과목 개요: 반도체 소자에 대한 테스트 및 신뢰성에 대해 학습한다.
- 교육 목표: 본 강의의 목적은 반도체 산업 현장에서 실질적인 도움이 되고자 반도체 소자의 특성 및 신뢰성 평가를 위한 전기적 분석 방법 및 In-line 측정 기술을 이해하고 반도체 제품 신뢰성에 대한 다양한 사례를 학습하고자 한다.

대학물리, 소자1를 수강했다면 도움이 됩니다. 무엇보다도 반도체 측정/분석 및 신뢰성에 대해 이해하고자하는 열망이 크다면, 큰 도움이 되겠습니다.

중간고사(25%)+기말고사(25%)+실습(25%)+과제(20%)+출석(5%)

1주차 (9/3) 수업 소개 (실습파트) (9/5) Test Scheme for Semiconductor products
2주차 (9/10) No class (9/12) Electric Test/Analysis 1
3주차 (9/17) No class (9/19) Electric Test/Analysis 2
4주차 (9/24) 측정 강의 (I-V, CV 측정장비) (9/26) Electric Test/Analysis 3
5주차 (10/1) 측정 실습 (측정장비기본교육) *(10/3) Generation/Recombination
6주차 (10/8) 측정 실습 (Short channel 측정 1) *(10/10) Gate oxide Reliability 1
7주차 (10/15) 측정 강의 (Charge pumping) *(10/17) Gate oxide Reliability 2
8주차 (10/24) Mid-Term Exam.
9주차 (10/29) 측정 실습(Charge pumping) *(10/31) HKMG Characteristics/Reliability
10주차 (11/5) 측정 강의(Pulse IV/self-heating) *(11/7) In-line Monitoring Tools/Analysis 1
11주차 (11/12) 측정 실습 (Pulse I-V) *(11/14) In-line Monitoring Tools/Analysis 2
12주차 (11/19) 측정 강의 (측정 report 발표) *(11/21) Semiconductor product Reliability 1
13주차 (11/26) No class *(11/28) Semiconductor product Reliability 2
14주차 (12/3) No class *(12/5) Package-Level Reliability
15주차 (12/10) No class *(12/12) Radiation Hardening for Electronics
16주차 (12/19) Final-Term Exam.
※ 매주 화 실습 중심, 목 이론 중심 진행
※ 강의/보강시간 : 10:00~11:40(* : 09:00~11:40)

일반강의+실습